Equotip550Leeb金屬硬度計

Equotip550Leeb金屬硬度計

Equotip 550 是便攜式硬度檢測中功能的(de)一(yī)體化解決方案。 裏氏硬度原理(lǐ)基于動态（回彈）法，用于重型、大型或已安裝部件的(de)現場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可(kě)使用傳統的(de)洛氏硬度靜态檢測法。 這将能夠在現場自(zì)動将 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的(de)實際壓痕硬度值。

新一(yī)代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業專家精心設計的(de)界面，提高(gāo)了檢測效率和(hé)改善用戶體驗。 改進的(de)軟件可(kě)提供互動向導、自(zì)動驗證進程、個性化選項和(hé)自(zì)定義報告功能。 此外，該儀器可(kě)兼容後續開發産品。

全彩顯示屏使您能夠執行質量的(de)測量和(hé)對已測得數據進行分析。特殊設計的(de)外殼适于惡劣的(de)現場使用環境。

Proceq 的(de) Equotip 已經成為(wèi)廣泛認可(kě)的(de)測量技術和(hé)行業标準。 Equotip 裝置*衆多行業對無損硬度檢測的(de)要求。

特色/應用/标準化/技術數據

Equotip Leeb

根據需要自(zì)動轉換至所有通用的(de)硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自(zì)動更正沖擊方向确保高(gāo)準确度 ± 4 HL（硬度為(wèi) 800 HL 時，準确度為(wèi) 0.5%）
測量範圍廣泛，可(kě)利用各種沖擊裝置和(hé)支撐環來滿足絕大多數的(de)硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可(kě)使用硬度範圍廣泛和(hé)精确的(de)硬度測試塊，，用于定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

模塊化概念： 利用各種型号的(de)探頭和(hé)配件靈活配置各種行業應用
組合法： 在現場自(zì)動将 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的(de)實際壓痕硬度值
引導向導： 預定義工作流以增強進程可(kě)靠性和(hé)提高(gāo)測量精确度
自(zì)動驗證： 根據 ISO 16859 和(hé) ASTM A956 逐步驗證
互動指南： 通過屏幕通知為(wèi)您的(de)應用獲取的(de)設置
轉換曲線： 直接在儀器上創建、編輯和(hé)驗證轉換曲線
自(zì)定義報告： 模塊化報告處理(lǐ)器允許自(zì)定義測量報告
自(zì)動選項： 将 NDT 自(zì)動操作集成至質量管理(lǐ)系統和(hé)自(zì)動檢測環境
外殼經過特殊設計，可(kě)用于嚴苛的(de)現場環境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和(hé)遮陽蓋
高(gāo)分辨率彩色顯示屏
電池使用時長(cháng) > 8h
8 GB 閃存
雙核處理(lǐ)器，支持各種通信接口和(hé)外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和(hé)以太網
通過直接兼容後續開發産品，實現未來保障投資
 

裏氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可(kě)用于複合材料、橡膠和(hé)岩石檢測
合适用于材料挑選、驗收和(hé)生産環節檢測
合适用于重型和(hé)大型部件安裝前後的(de)現場檢測
方便用于難進入或空間有限的(de)金屬硬度檢測場地(dì)
Proceq 提供一(yī)些附件，例如(rú)一(yī)個測量夾或幾個支撐腳，适合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

标準

ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859（即将發布）
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
 

準則

ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
 

Equotip550Leeb金屬硬度計
技術參數：

顯示屏 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內(nèi)存 內(nèi)置 8 GB 閃存（可(kě)存儲多達 1000000 個測量值）
區域設置 公制和(hé)英制單位，支持多種語言和(hé)時區
電池 锂聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長(cháng) > 8h（标準操作模式下）
電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A
重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）
尺寸 250 x 162 x 62 mm
海拔 2500 m 海拔高(gāo)度
濕度 < 95 %RH，非冷凝
操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充電且儀器正在運行）
               0°C 至 40°C（32 至 104°F）  （正在充電且儀器關閉）

              -10°C 至 50°C（14 至 122°F）  （未充電）

環境 适合室內(nèi)與室外使用
IP 等級 IP 54
污染等級 2
安裝類别 2
 

Equotip Leeb 沖擊裝置

測量範圍 1-999 HL
測量精度 ± 4 HL（800 HL 時為(wèi) 0.5 %）
分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
           0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
沖擊方向 自(zì)動補償（DL 探頭除外）
沖擊能量 
D、DC、E、S 探頭為(wèi) 11.5 Nmm
DL 探頭為(wèi) 11.1 Nmm
C 探頭為(wèi) 3.0 Nmm
G 探頭為(wèi) 90.0 Nmm
 

沖擊體質量 

D、DC、E、S 探頭為(wèi) 5.45 克（0.2 盎司）
DL 探頭為(wèi) 7.25 克（0.26 盎司）
C 探頭為(wèi) 3.10 克（0.11 盎司）
G 探頭為(wèi) 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭 

C、D、DC 探頭為(wèi)碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
DL 探頭為(wèi)碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸）
G 探頭為(wèi)碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）
S 探頭為(wèi)陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
E 探頭為(wèi)多晶金剛石，直徑3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度 –10˚C 至 50˚C（14 至 122°F）