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科電MCW-2000B渦流塗層測厚儀影響測量的(de)若幹因素

點擊次數:552 更新時間:2021-09-02

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科電MCW-2000B渦流塗層測厚儀影響測量的(de)若幹因素

MCW-2000B(渦流)塗層測厚儀是的(de)結晶,它采用單片機技術,精度高(gāo)、數字顯示、示值穩定、功耗低(dī)、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統計、低(dī)電壓指示、系統/零點/兩點校準,其性能達到當代同類儀器的(de)*水平。


應用範圍:

本儀器采用渦流測厚法,可(kě)以方便無損地(dì)測量有色金屬基體上的(de)油漆、塑料、橡膠等塗層的(de)厚度,或者是鋁基體的(de)陽極氧化膜的(de)厚度等。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。


技術參數:

1、測量範圍:0~1200um

2、測量誤差:<3%±1um

3、小示值:1um

4、顯示方式:4位液晶數字顯示

5、主要功能:

(1).測量:單探頭全量程測厚

(2).存儲、删除:可(kě)存入測量數據600個,對測量中的(de)單個可(kě)疑數據進行删除,也可(kě)以删除存儲區內(nèi)的(de)所有數據。

(3).讀:讀出已存入的(de)測量數據

(4).統計:設有三個統計量,平均值大值小值

(5).校準:可(kě)進行零點校準、兩點校準及系統校準

(6).電量:具有欠壓顯示功能

(7).打印:可(kě)打印測量值,選配微型打印機

(8).關機:具有自(zì)動關機和(hé)手動關機兩種方法

6、電源:兩節1.5v電池

7、功耗:大功耗100mw

8、外形盡寸:124mm *50mm *24mm

9、重量:150g(含電池)

10、使用環境溫度:0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90%

11、基體小厚度:0.3mm

12、基體小平面的(de)直徑:7mm

13、小曲率半徑:凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示:右上角顯示""

*臨界厚度小:工件基體厚度大于1mm時,其塗層厚度的(de)測量不受基體厚度影響。


影響測量的(de)若幹因素:

-基體金屬厚度

每一(yī)種儀器都有一(yī)個基體金屬的(de)臨界厚度,大于這個厚度測量就不受基體厚度的(de)影響。

曲率

試件的(de)曲率對測量有影響,這種影響是随着曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的(de)曲率半徑的(de)彎曲面上測量。

-表面粗糙度

基體金屬和(hé)表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和(hé)偶然誤差。每次測量時,在

不同位置上增加測量的(de)次數,克服這種偶然誤差。

如(rú)果基體金屬粗糙還必須在未塗覆的(de)粗糙相類似的(de)基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的(de)零點;或用沒有腐蝕性的(de)溶液除去(qù)在基體金屬上的(de)覆蓋層,再校對儀器零點。

-附着物質

本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的(de)附着物質敏感。因此必須清除附着物質,以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

-探頭的(de)放置

探頭的(de)放置方式對測量有影響,在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

-試片的(de)變形

探頭使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上會出現不太可(kě)靠的(de)數據。

-讀數次數

通常儀器的(de)每次讀數并不*相同。因此必須在每一(yī)測量面積內(nèi)取幾個測量值,覆蓋層厚度的(de)局部差異,也要求在給定的(de)面積內(nèi)進行測量,表面粗糙時更應如(rú)此。


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